IT之家 12 月 4 日訊息，長光辰芯（Gpixel）於 12 月 2 日釋出公告，宣佈推出兩款高速、高靈敏度背照式 TDI CMOS 影象：GLT5008BSI 和 GLT5016BSI。
此兩款產品採用更最佳化的設計，具有更高的行頻、更高量子效率，更好的片上整合度，更加匹配半導體晶圓檢測、FPD 檢測、高通量基因測序、生物熒光成像等行業的應用需求。
IT之家援引新聞稿，GLT5008BSI 和 GLT5016BSI 基於相同的架構進行設計，採用 5 μm 的電荷域 TDI 畫素設計，片上整合兩個譜段，積分級數分別為 256 級 + 32 級。
GLT5008BSI 有效解析度為 8208 畫素，支援 10 bit 和 12 bit ADC 輸出，最高行頻分別可達 1M Hz 和 500k Hz；GLT5016BSI 有效解析度為 16416 畫素，其最高行頻可達到 500k Hz。
兩款產品最高輸出資料率分別為 86.4 Gbps 和 103.7 Gbps, 均可採用 100GiGE 相機介面進行資料傳輸。
兩款產品均面向下一代更高通量、更高檢出率的基因測序、半導體檢測、螢幕檢測等應用而開發，助力高階儀器裝備行業產業升級。
GLT5008BSI / GLT5016BSI 根據不同應用進行 ARC 最佳化設計，分別為紫外譜段最佳化設計（UV）以及可見光最佳化設計（VIS）。
在 UV 版本下，其在 300 nm 以下的峰值量子效率可達 80% 以上；在 266 nm 下，其量子效率可到 65% 以上；在 VIS 版本下，峰值量子效率可高達 92.4% @ 440 nm。此外，除以上兩種 ARC 外，也可根據使用者需求，提供不同譜段 ARC 定製服務。
GLT5016BSI：16K 背照式 CMOS TDI 影象感測器
GLT5016BSI 是一款背照式（BSI）、時延積分（TDI）、電荷域 CMOS 影象感測器，水平方向有效解析度為 16416，畫素尺寸為 5 μm，最高滿阱 15 ke⁻。
該感測器具有優異的 anti-blooming 能力以及大於 0.99996 的電荷轉移效率（CTE），最高階數支援 256 級，最高行頻可達 500 kHz，在最高行頻情況下功耗小於 6.4 W，為確保高可靠性和良好的散熱效能，其採用 415 引腳的 μPGA 陶瓷封裝。
GLT5016BSI 具備高解析度、高靈敏度、高幀頻、低功耗等優異效能，同時片上集成了時序控制模組和電源管理模組，支援通道合併、可選掃描方向等功能，為基因測序、半導體檢測、螢幕檢測等應用帶來更加準確、簡單、高效的解決方案。
GLT5008BSI：8K 背照式 CMOS TDI 影象感測器
GLT5008BSI 是一款背照式（BSI）、時延積分（TDI）、電荷域 CMOS 影象感測器，水平方向有效解析度為 8208，畫素尺寸為 5 μm，最高滿阱 17 ke⁻。
該感測器具有優異的 anti-blooming 能力以及大於 0.99993 的電荷轉移效率（CTE），峰值量子效率為 93.4% @ 440 nm，得益於先進的背照式工藝和紫外量子效率最佳化工藝，在 266 nm 處的量子效率大於 63.9%。
