上海寒武紀申請晶片效能測試專利，能夠提高晶片效能測試結果的準確性

金融界2024年11月30日訊息，國家智慧財產權局資訊顯示，上海寒武紀資訊科技有限公司申請一項名為“晶片效能測試方法、裝置、計算機裝置及儲存介質”的專利，公開號CN 119044740 A，申請日期為2023年5月。

專利摘要顯示，本發明涉及晶片效能測試技術領域，公開了晶片效能測試方法、裝置、計算機裝置及儲存介質，晶片效能測試方法包括：生成第一激勵資料和第二激勵資料；其中，第一激勵資料和第二激勵資料用於描述晶片的同一性能；基於第一激勵資料進行模擬，以得到當前模擬結果；以及對第二激勵資料進行處理，以得到當前理論結果；將當前模擬結果與當前理論結果進行比較，以得到比較結果根據比較結果確定晶片效能測試是否透過本發明不僅能夠縮短晶片效能測試時間，而且還能夠提高晶片效能測試結果的準確性。

本文源自：金融界

作者：情報員