工作穩定性成為影響有機場效應電晶體（OFETs）商業化的關鍵問題。人們普遍認為它與介電介質和有機半導體介面上的缺陷和陷阱密切相關，但這種認識並不總是有效地解決執行不穩定性問題，這意味著影響執行穩定性的因素尚未得到充分了解。
2024年9月6日，天津大學Tie Kai等人在Science Advances線上發表題為“Crucial role of interfacial thermal dissipation in the operational stability of organic field-effect transistors”的研究論文，該研究揭示了自熱效應是影響執行穩定性的另一個關鍵因素。這項工作加深了對執行穩定性的認識，為超高穩定器件的研製開闢了一條有效途徑。
但是，在2025年1月29日，該文章被撤回，主要原因是資料異常。
2024年9月6日，Science Advances發表了該文章。發表後，讀者提出了多個數字有問題的擔憂。這些問題已提交給作者，並於2024年11月8日在論文上發表了一份編輯關注表達。對資料的分析得出了對多個資料完整性的擔憂。
圖1H似乎有異常的資料點。圖4A和圖S12顯然是透過使用彩色掩模來覆蓋原始圖形的部分而改變的。在圖2D中，裝置實際尺寸的印記顯然被彩色掩模覆蓋，並在其位置新增了不正確的比例。
結果，這篇研究論文被撤回。所有作者都同意撤稿。
參考訊息：
https://www.science.org/doi/10.1126/sciadv.adv4628
