中科曙光申請儲存控制器測試方法專利，提高儲存裝置測試效率

金融界2024年2月9日訊息，據國家智慧財產權局公告，申請一項名為“儲存控制器測試方法、裝置、計算機裝置和儲存介質“，公開號CN117539697A，申請日期為2023年10月。

專利摘要顯示，本申請涉及一種儲存裝置測試方法、裝置、計算機裝置、儲存介質和計算機程式產品。所述方法包括：在待測試的儲存裝置的BMC管理系統中，依次執行配置檔案中的每一測試項對應的測試命令，對儲存裝置進行功能測試；透過BMC管理系統獲取測試項對應的功能測試的第一測試資訊；基於每一測試項對應的第一測試資訊以及預設的參考測試資訊，確定測試項的測試結果，並得到儲存裝置的測試結果。採用本方法能夠提高儲存裝置測試效率。

本文源自金融界